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Título: Ensaios acelerados em sinaleiros LED (diodo emissor de luz) e incandescentes de painéis com alimentação 220Vac para análises de confiabilidade
Título(s) alternativo(s): Accelerated testing in LED (light emitting diode) and Incandescent pilot lights for panels with 220Vac for analyses of reliability
Autor(es): Kishimoto, Reinaldo Manabu
Orientador(es): Rigoni, Emerson
Palavras-chave: Confiabilidade (Engenharia)
Diodos emissores de luz
Lâmpadas elétricas
Ciclo de vida do produto
Reliability (Engineering)
Light emitting diodes
Electric lamps
Product life cicle
Data do documento: 25-Mai-2016
Editor: Universidade Tecnológica Federal do Paraná
Câmpus: Curitiba
Citação: KISHIMOTO, Reinaldo Manabu. Ensaio acelerados em sinaleiros LED (diodo emissor de luz) e incandescentes de painéis com alimentação 220Vac para análises de confiabilidade. 2015. 73 f. Trabalho de Conclusão de Curso (Especialização em Engenharia da Confiabilidade) - Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Curitiba, 2015.
Resumo: Este trabalho consiste na aplicação de ensaios acelerados em sinaleiros de painéis de diâmetro 22mm, que possuem tecnologia LED e incandescente, alimentados diretamente em 220Vac, objetivando comparar a durabilidade e confiabilidade entre ambas, para tomadas de decisões estratégicas de manutenção, investimentos e suprimentos. Dados de falha coletadas foram tratados através de análises de dados de vida quantitativos, bem como determinação de parâmetros de energia de ativação (Ea) e confiabilidade com auxílio do Software ALTA®. A grande durabilidade das lâmpadas LED e proximidade de valores de vida média indicada pelo fabricante das lâmpadas incandescentes foram comprovadas nos ensaios acelerados.
Abstract: This work involves the application of accelerated tests on pilot lights diameter of 22mm for panels, which feature LED technology and incandescent, supplied directly into 220Vac, aiming to compare the durability and reliability of both, for taking strategic maintenance decisions, investments and supplies. Failure data collected were processed using quantitative life data analysis and determination of activation energy parameters and reliability with ALTA™ Software aid. The durability of LED lamps and proximity average life values indicated by the manufacturer of incandescent lamps were proven in the accelerated tests.
URI: http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/18711
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