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dc.creatorNogueira, Camila Sampaio-
dc.date.accessioned2024-08-24T17:53:09Z-
dc.date.available2024-08-24T17:53:09Z-
dc.date.issued2024-04-03-
dc.identifier.citationNOGUEIRA, Camila Sampaio. Análise da concentração de elementos traço em bases faciais por fluorescência de raios X. 2024. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica e Informática Industrial) - Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Curitiba, 2024.pt_BR
dc.identifier.urihttp://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/34584-
dc.description.abstractFacial foundations are cosmetic products widespread in the beauty and personal care sector and are present in the routine of many people. In recent years, research involving elemental analysis of cosmetics has received attention from the scientific community, as the presence of elements harmful to health in cosmetic formulations may occur due to natural contamination of the raw material or manufacturing processes. Therefore, national and international regulatory agencies have resolutions that seek to regulate the presence of heavy metals and trace elements in cosmetics. In alignment with the resolution of the European Parliament and the Council, the National Health Surveillance Agency (ANVISA) prohibits the presence or restricts the concentration of elements such as As, Ba, Be, Br, Cd, Cl, Co, Cr, Hg, I, Nd, Ni, P, Pb, Sb, Se, Te, Tl and Zr in cosmetic formulations due to their toxicological implications in contact with the skin, eyes and oral cavity. Therefore, this work aimed to determine the concentration of trace elements in facial foundation samples using the X-ray fluorescence technique to verify whether they comply with the resolutions proposed by ANVISA. For this, 51 samples of fluid facial foundations were purchased from cosmetics stores in Curitiba and São Paulo. Data was collected using an X-ray fluorescence kit composed of an X-ray tube with an Ag target (Model Mini-X) and a silicon semiconductor detector (Model X-123SDD) sold by Amptek Inc.®. The elements Cr, Ni, Cu, Zn, Br, Rb, Sr, Zr, Cd, and Ba were quantified using the standard addition method combined with scattered X-ray calibration and standardization methods. The results showed that all the quantified elements disagree with the regulations set out by ANVISA. Of the quantified elements that comprise the regulatory agency’s list of prohibited elements, only Cr and Sr did not present concentrations above 100 µg/g, the maximum value established for the contamination of metals in artificial colorings. Cd and Ni, elements recognized as harmful to health, presented maximum concentrations of 277 ± 51 µg/g and 130 ± 10 µg/g, respectively. Regarding the restrictions proposed by ANVISA, the highest concentration determined for Zr reached 589 ± 57 µg/g, approximately six times above the established limit. In contrast, Ba concentrations exceeded 14 thousand µg/g, approximately 60 times above the limit, with the highest concentration reaching 30,867 ± 1,500 µg/g. This research contributes to expanding knowledge about the presence of elements potentially harmful to health in the facial foundation, in addition to pointing out the disagreements between cosmetics sold in the country and the resolutions proposed by ANVISA.pt_BR
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)pt_BR
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Tecnológica Federal do Paranápt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/pt_BR
dc.subjectCosméticospt_BR
dc.subjectFace - Cuidado e higienept_BR
dc.subjectElementos traços - Análisept_BR
dc.subjectMetais pesadospt_BR
dc.subjectEspectroscopia de raio Xpt_BR
dc.subjectFluorescênciapt_BR
dc.subjectCosmeticspt_BR
dc.subjectFace - Care and hygienept_BR
dc.subjectTrace elements - Analysispt_BR
dc.subjectHeavy metalspt_BR
dc.subjectX-ray spectroscopypt_BR
dc.subjectFluorescencept_BR
dc.titleAnálise da concentração de elementos traço em bases faciais por fluorescência de raios Xpt_BR
dc.title.alternativeAnalysis of the concentration of trace elements in facial foundation using the X-Ray fluorescence techniquept_BR
dc.typemasterThesispt_BR
dc.description.resumoAs bases faciais são produtos cosméticos difundidos no âmbito de beleza e de cuidado pessoal e estão presentes na rotina de diversas pessoas. Nos últimos anos, pesquisas envolvendo análise elementar de cosméticos têm recebido atenção da comunidade científica, visto que a presença de elementos nocivos à saúde em formulações de cosméticos pode ocorrer devido à contaminação natural da matéria-prima ou aos processos de fabricação. Diante disso, agências reguladoras nacionais e internacionais dispõem de resoluções que buscam regulamentar a presença de metais pesados e oligoelementos em cosméticos. Em alinhamento com a resolução do Parlamento Europeu e do Concelho, a Agência Nacional de Vigilância Sanitária (ANVISA) veta a presença ou restringe a concentração de elementos como As, Ba, Be, Br, Cd, Cl, Co, Cr, Hg, I, Nd, Ni, P, Pb, Sb, Se, Te, Tl e Zr nas formulações de cosméticos devido às suas implicações toxicológicas em contato com a pele, olhos e cavidade oral. Diante disso, o objetivo desse trabalho foi determinar a concentração de elementos traço em amostras de bases faciais utilizando a técnica de fluorescência de raios X, a fim de verificar se estão de acordo com as resoluções propostas pela ANVISA. Para isso, foram adquiridas 51 amostras de bases faciais fluidas em lojas de cosméticos nas cidades de Curitiba e São Paulo. A coleta de dados foi realizada por meio de um kit de fluorescência de raios X composto por um tubo de raios X com alvo Ag (Modelo Mini-X) e um detector semicondutor de silício (Modelo X-123SDD), ambos comercializados pela Amptek Inc.®. Os elementos Cr, Ni, Cu, Zn, Br, Rb, Sr, Zr, Cd e Ba foram quantificados utilizando o método de adição de padrão combinado com os métodos de calibração e padronização por raios X espalhados. Os resultados apontaram que todos os elementos quantificados estão em desacordo com regulamentações dispostas pela ANVISA. Dos elementos quantificados que constituem a lista de elementos proibidos da agência reguladora, somente o Cr e o Sr não apresentaram concentrações acima de 100 µg/g, valor máximo estabelecido para a contaminação de metais em corantes artificiais. O Cd e o Ni, elementos reconhecidos como nocivos à saúde, apresentaram concentração máxima de 277 ± 51 µg/g e 130 ± 10 µg/g, respectivamente. Quanto às restrições propostas pela ANVISA, a maior concentração determinada para o Zr atingiu 589 ± 57 µg/g, aproximadamente seis vezes acima do limite estabelecido. Em contrapartida, as concentrações de Ba ultrapassaram 14 mil µg/g, aproximadamente 60 vezes acima do limite, com a maior concentração atingindo 30.867 ± 1.500 µg/g. Os resultados desta pesquisa contribuem para a ampliação do conhecimento acerca da presença de elementos potencialmente nocivos à saúde em bases faciais, além de apontar as discordâncias entre os cosméticos comercializados no país e as resoluções proposta pela ANVISA.pt_BR
dc.degree.localCuritibapt_BR
dc.publisher.localCuritibapt_BR
dc.creator.IDhttps://orcid.org/0000-0001-7826-0062pt_BR
dc.creator.Latteshttp://lattes.cnpq.br/2008190210000757pt_BR
dc.contributor.advisor1Paschuk, Sergei Anatolyevich-
dc.contributor.advisor1IDhttps://orcid.org/0000-0001-5125-0163pt_BR
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/5290164798310287pt_BR
dc.contributor.advisor-co1Corrêa, Janine Nicolosi-
dc.contributor.advisor-co1IDhttps://orcid.org/0000-0001-9692-7182pt_BR
dc.contributor.advisor-co1Latteshttp://lattes.cnpq.br/0937029113190458pt_BR
dc.contributor.referee1Schelin, Hugo Reuters-
dc.contributor.referee1IDhttps://orcid.org/0000-0002-2074-4408pt_BR
dc.contributor.referee1Latteshttp://lattes.cnpq.br/1506878029093299pt_BR
dc.contributor.referee2Corrêa, Janine Nicolosi-
dc.contributor.referee2IDhttps://orcid.org/0000-0001-9692-7182pt_BR
dc.contributor.referee2Latteshttp://lattes.cnpq.br/0937029113190458pt_BR
dc.contributor.referee3Anjos, Marcelino José dos-
dc.contributor.referee3IDhttps://orcid.org/0000-0003-4227-2138pt_BR
dc.contributor.referee3Latteshttp://lattes.cnpq.br/8175635608970623pt_BR
dc.contributor.referee4Paschuk, Sergei Anatolyevich-
dc.contributor.referee4IDhttps://orcid.org/0000-0001-5125-0163pt_BR
dc.contributor.referee4Latteshttp://lattes.cnpq.br/5290164798310287pt_BR
dc.contributor.referee5Denyak, Valeriy-
dc.contributor.referee5IDhttps://orcid.org/0000-0001-7238-841Xpt_BR
dc.contributor.referee5Latteshttp://lattes.cnpq.br/9723527574588682pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica e Informática Industrialpt_BR
dc.publisher.initialsUTFPRpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA BIOMEDICApt_BR
dc.subject.capesEngenharia Elétricapt_BR
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